Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Pareek, Kaushal Arun* ; May, Daniel ; Ras, Mohamad Abo ; Wunderle, Bernhard
Towards development of an intelligent failure analysis system based on infrared thermography
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | ESF | |
| Institut: | Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0026-2714 | |
| DOI: | doi:10.1016/j.microrel.2022.114823 | |
| Quelle: | In: Microelectronics Reliability. - Elsevier BV. - 139. 2022, 114823 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Infrared thermography , Post-processing , Signal-to-background contrast , Finite element modelling , Data augmentation |
