Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Wargulski, Dan R. ; May, Daniel ; Boschman, Eef ; Hutzler, Aaron ; Wunderle, Bernhard ; Ras, Mohamad Abo
Inline failure analysis of electronic components by infrared thermography without high-emissivity spray coatings
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-1-7281-6293-5 ; 978-1-7281-6294-2 | |
| DOI: | doi:10.1109/estc48849.2020.9229787 | |
| Quelle: | Electronics System-Integration Technology Conference, ESTC, 15-18 Sept. 2020, online. - IEEE, 2020 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | In-line, Failure Analysis , IR Thermography , void , delamination , crack , VacBlack , high emissivity coating |
