Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Schlosser, Tobias ; Beuth, Frederik ; Friedrich, Michael ; Kowerko, Danny
Fehlerdetektion und -klassifikation bei Laserschneidprozessen mittels Deep Neural Networks
Defect detection and classification in laser dicing processes using deep neural networks
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | BMBF | |
| Institut: | Juniorprofessur Media Computing | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, nicht referiert | |
| URL/URN: | https://www.tu-chemnitz.de/informatik/service/ib/pdf/CSR-20-01.pdf | |
| Quelle: | Chemnitzer Linux-Tage 2019 - LocalizeIT Workshop, 03/2019, Chemnitzer Informatik Berichte 2020 ; CSR-20-01 S. 67-81, 2020 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Deep Learning , Object Detection and Classification , semiconductor defects , Semiconductor Wafer |
