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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Boldyrjew-Mast, Roman* ; Lutz, Josef

Reliability of GaN GIT Devices in Power Cycling Tests with RDS(on)(T) and VGS(T) for Junction Temperature Calculation


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 978-3-8007-5245-4 ; 2191-3358
Quelle: International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, PCIM Europe digital days 2020, 07. - 08.07.2020, Nuremberg, pp. 653 - 660. - Berlin, Offenbach : VDE VERLAG GMBH, 2020
Freie Schlagwörter (Englisch): semiconductor power devices , gate injection transistors , gallium nitride , heterojunction field effect transistors , power cycling test , junction temperature calculation

 

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