Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Voss, Ingo* ; Aichinger, Thomas ; Basler, Thomas ; Friedrichs, Peter ; Rupp, Roland
Reliability and Ruggedness of SiC Trench MOSFETs for Long-Term Applications in Humid Environment
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-4646-0 | |
| Quelle: | PCIM Europe 2018; International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, 5-7 June 2018, Nuremberg, Germany, CD-ROM | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC MOSFET , Humidity , Reliability , Ruggedness |
