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Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Palanisamy, Shanmuganathan ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas

Avalanche Ruggedness of SiC MPS Diodes Under Repetitive Unclamped-Inductive-Switching Stress


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, nicht referiert
ISBN/ISSN: 1863-5598
Quelle: In: Bodo's Power Systems. - Bodo Arlt. 2020, S. 26 - 29
Freie Schlagwörter (Englisch): Avalanche ruggedness , SiC diode , MPS diode , UIS , Bipolar degradation

 

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