Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Azhniuk, Yuriy ; Dzhagan, Volodymyr ; Solonenko, Dmytro ; Loya, Vasyl ; Grytsyshche, Iaroslav ; Lopushansky, Vasyl ; Gomonnai, Alexander V. ; Zahn, Dietrich R. T.
In-doped As2Se3 thin films studied by Raman and X-ray photoelectron spectroscopies
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
ISBN/ISSN: | 0169-4332 | |
DOI: | doi:10.1016/j.apsusc.2018.12.097 | |
Quelle: | In: Applied Surface Science. - Elsevier BV. - 471. 2019, S. 943 - 949 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | Amorphous film , Atomic force microscopy , X-ray photoelectron spectroscopy , Raman scattering , Semiconductor nanocrystals | |
Bemerkung: |
_MA!N_ |