Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Gmeinwieser, N.* ; Gottfriedsen, P. ; Schwarz, Ulrich T. ; Wegscheider, W. ; Clos, R. ; Krtschil, A. ; Krost, A. ; Weimar, A. ; Brüderl, G. ; Lell, A. ; Härle, V.
Local strain and potential distribution induced by single dislocations in GaN
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Experimentelle Sensorik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0021-8979, 1089-7550 | |
| DOI: | doi:10.1063/1.2137879 | |
| Quelle: | In: Journal of Applied Physics. - AIP Publishing. - 98. 2005, 11, 116102-1 - 116102-3 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Kelvin probe force microscopy , Atomic force microscopy , Semiconductors , Micro-photoluminescence , Transmission electron microscopy , Charge coupled devices , Electronic bandstructure , Elasticity , Excitons , Crystallographic defects |
