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Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Weißbach, Marie ; Auerswald, Ellen ; Hildebrandt, Marcus ; Rzepka, Sven

Multiscale residual stress analysis in thin film layers


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Zentrum für Mikrotechnologien (ZfM)
Dokumentart: Konferenzbeitrag, nicht referiert
ISBN/ISSN: 978-3-95735-082-4
Quelle: Smart Systems Integration SSI, 11-12 April, Dresden, pp. 515-518
Freie Schlagwörter (Englisch): NanoEIS+

 

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