Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Hinrichs, K. ; Silaghi, S.D. ; Schade, U. ; Eichhorn, K.-J. ; Stamm, M. ; Ionov, L. ; Zahn, Dietrich R. T. ; Esser, N. ; Gensch, M.
IR - Synchrotron Ellipsometry for the Characterisation of Nanostructured Organic and Biomolecular Films: DNA Bases and Polymer Brushes
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, nicht referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0179-4159 | |
| Quelle: | In: Highlights / Berliner Elektronenspeicherring-Gesellschaft für Synchrotronstrahlung MBH : Bessy Highlights 2005. 2006, S. 348 - 349 |
