Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Falke, Meiken ; Alleinstein, Frank ; Filonenko, Olga ; Beddies, Gunter ; Schulze, Steffen ; Hietschold, Michael ; de Keyser, Koen ; Detavernier, Christophe
Electron Microscopy on Axiotaxy of CrSi2 on Si(001) from the micrometer to the Angstrom scale
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut 1: | Professur Analytik an Festkörperoberflächen | |
| Institut 2: | Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik | |
| Dokumentart: | Konferenzabstract | |
| ISBN/ISSN: | ISSN 0420-0195 | |
| Quelle: | Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft VI, 42. - Regensburg : DPG , 2007, S. 385 |
