Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Falke, Meiken ; Schletter, Herbert ; Filonenko, Olga ; Mogilatenko, Anna ; Beddies, Gunter ; Schulze, Steffen ; Hietschold, Michael ; Bleloch, A. ; de Keyser, K. ; Detavernier, C.
Axiotaxy of CrSi2 on Si(001); from the Micrometer - to the Angstrom-Scale
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut 1: | Professur Analytik an Festkörperoberflächen | |
| Institut 2: | Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik | |
| Dokumentart: | Konferenzabstract | |
| URL/URN: | doi:10.1017/S1431927607081986 | |
| Quelle: | Proceedings Microscopy Conference MC 2007. - Saarbrücken : Cambridge University, 2007, S. 396 - 397 |
