Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Friedrich, M. ; Himcinschi, C. ; Salvan, G. ; Anghel, M. ; Paraian, A. ; Wagner, Th. ; Kampen, T. U. ; Zahn, Dietrich R. T.
VASE and IR Spectroscopy: Excellent Tools to Study Biaxial Organic Molecular Thin Films: DiMe-PTCDI on S-Passivated GaAs(100)
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0040-6090 | |
| URL/URN: | doi:10.1016/j.tsf.2003.11.224 | |
| Quelle: | In: Thin Solid Films. - 455-456. 2004, S. 586 - 590 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Generalised ellipsometry , Infrared spectroscopy , Anisotropy , Organic molecular thin film |
