Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Hein, Lukas ; Schwabe, Christian ; Goller, Maximilian ; Basler, Thomas
Investigation of thermo-mechanical fatigue in lateral GaN power transistors with variable switching and conduction losses
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISBN: 978-3-8007-6288-0 | |
| Quelle: | In: ETG-Fb. 173: CIPS 2024 : 13th International Conference on Integrated Power Electronics Systems, March, 12-14, 2024, Düsseldorf, Germany. - Düsseldorf : VDE. 2024, S. 519 - 525 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Reliability , GaN GIT , GaN HEMT with ohmic p-GaN Gate , Power Cycling Test , Switching Losses |
