Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Zhang, Yi* ; Heimler, Patrick ; Abuogo, James ; Zhang, Xinyue* ; Zhang, Yichi ; Xie, Dong* ; Zhang, Yuhao ; Zhang, Kaichen ; Li, Xiang ; Luo, Haoze ; Schmidt, Ralf ; Blaabjerg, Frede ; Wang, Huai ; Basler, Thomas
Power Cycling Testing for Power Semiconductor Switches: Methods, Standards, Limitations, and Outlooks
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISSN: 0885-8993 ; Electronic ISSN: 1941-0107 | |
| DOI: | doi:10.1109/TPEL.2025.3595180 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/11108707 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Power Electronics. - IEEE. 2025 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Packaging , Failure analysis , Reliability , Silicon carbide , Silicon , Wire , Temperature distribution , Temperature control , Standards , Testing | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
