Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Liu, Shenyi* ; Vuorinen, Vesa ; Liu, Xing ; Fredrikson, Olli ; Brand, Sebastian ; Tiwary, Nikhilendu ; Lutz, Josef ; Paulasto-Kröckel, Mervi
Fatigue Crack Networks in Die-Attach Layers of IGBT Modules Under a Power Cycling Test
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Print ISSN: 0885-8993; Electronic ISSN: 1941-0107 | |
| DOI: | doi:10.1109/tpel.2024.3447909 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/10643699 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Power Electronics. - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). - 39. 2024, 12, S. 16695 - 16707 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Die-attach , fast power cycling test , fatique crack network , insulated-gate bipolar transistor | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
