Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Ye, Yijun ; Hensler, Alexander ; Basler, Thomas ; Lutz, Josef
Surge current test of SiC MOSFET with planar Assembling and Joining Technology
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | ISBN 978-80-01-07198-4 (printed) ; ISBN 978-80-01-07199-1 (online) | |
| Quelle: | 16th INTERNATIONAL SEMINAR ON POWER SEMICONDUCTORS, ISPS'23, 30 August - 01 September 2023, Prague, pp. 126 - 130 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC MOSFET, surge current |
