Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Liu, Xing* ; Mysore, Madhu-Lakshman* ; Lutz, Josef* ; Basler, Thomas*
Study on the IGBT Short Circuit Type II Behavior Considering the Plasma Effect
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0885-8993 ; 1941-0107 | |
| DOI: | doi:10.1109/tpel.2022.3204717 | |
| URL/URN: | https://ieeexplore.ieee.org/document/9880560 | |
| Quelle: | In: IEEE Transactions on Power Electronics. - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). - 38. 2023, 1, S. 491 - 499 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Insulated gate bipolar transistor (IGBT) , plasma , short-circuit , TCAD-simulation |
