Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Palanisamy, Shanmuganathan ; Lutz, Josef ; Basler, Thomas
Avalanche Ruggedness of SiC MPS Diodes Under Repetitive Unclamped-Inductive-Switching Stress
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, nicht referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1863-5598 | |
| Quelle: | In: Bodo's Power Systems. - Bodo Arlt. 2020, S. 26 - 29 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Avalanche ruggedness , SiC diode , MPS diode , UIS , Bipolar degradation |
