Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Gruschwitz, Markus ; Schletter, Herbert ; Schulze, Steffen ; Alexandrou, Ioannis ; Tegenkamp, Christoph*
Epitaxial graphene on 6H–SiC(0001): Defects in SiC investigated by STEM
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Analytik an Festkörperoberflächen | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 2475-9953 | |
| DOI: | doi:10.1103/physrevmaterials.3.094004 | |
| Quelle: | In: Physical Review Materials. - American Physical Society (APS). - 3. 2019, 9, 094004 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC epitaxial graphene EDX electron energy loss spectroscopy |
