Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Lutz, Josef* ;
Franke, Jörg
Reliability and reliability investigation of wide-bandgap power devices
| Universität: |
| Technische Universität Chemnitz |
| Institut: |
| Professur Leistungselektronik |
| Dokumentart: |
| Konferenzbeitrag, referiert |
| ISBN/ISSN: |
| ISSN: 0026-2714 |
| DOI: |
| doi:10.1016/j.microrel.2018.07.001 |
| Quelle: |
| Microelectronics Reliability. - 88-90.2018, pp. 550 - 556. - Part of special issue: 29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ( ESREF 2018 ) |
| Freie Schlagwörter (Englisch): |
| Gate oxide , SiC MOSFET , GaN HEMT , GaN GIT , Power cycling |
