Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Franke, Jörg* ; Zeng, Guang ; Winkler, Tom ; Lutz, Josef
Power cycling reliability results of GaN HEMT devices
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | BMFTR | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-1-5386-6826-9 | |
| Quelle: | Proceedings of the 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs, May 13-17, 2018 Chicago, USA, pp. 467-470. - IEEE, 2018 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | HEMT , reliability , temperature measurement , power cycling test , lifetime estimation , failure mechanisms |
