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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Sheva, Sergey* ; Mroßko, Raúl ; Heilmann, Jens ; Wunderle, Bernhard ; Hantos, Gusztáv ; Noijen, Sander ; Keller, Jürgen

Cost-efficient in-situ end-of-life prognostics of power dies and LEDs by junction temperature measurement


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 978-1-5090-5450-3
URL/URN: https://doi.org/10.1109/THERMINIC.2016.7749068
Quelle: 22nd International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC), September 21-23, 2016, Budapest, Hungary, pp. 287-293
Freie Schlagwörter (Englisch): lifetime , reliability , thermal health monitoring

 

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