Springe zum Hauptinhalt
Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie
Universitätsbibliothek 

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Fichtner, Susanne ; Frankeser, Sophia ; Rupp, R. ; Basler, Thomas ; Gerlach, R. ; Lutz, Josef

Ruggedness of 1200 V SiC MPS diodes


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 0026-2714
URL/URN: doi:10.1016/j.microrel.2015.06.088 ; http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271415001808
Quelle: Proceedings of the 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ESREF 2015. - Microelectronics Reliability. - 55. 2015, 9-10, pp. 1677-1681
Freie Schlagwörter (Deutsch): Robustheit , SiC , MPS , Diode , Überstrom , Abschaltverhalten , Stoßstrom
Freie Schlagwörter (Englisch): Ruggedness , SiC, MPS, diode , overcurrent , turn-off behaviour , surge current

 

Soziale Medien

Verbinde dich mit uns: