Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Determination of parameters with uncertainties for quality control in MEMS fabrication | Gennat, Marc et al. | 2013 |
2 | Vollautomatisierter Test von Mikrosystemen auf dem Wafer | Giessmann, Sebastian et al. | 2007 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 2 |