Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
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1 | ALD-grown seed layers for electrochemical copper deposition integrated with different diffusion barrier systems. | Waechtler, Thomas et al. | 2010 |
2 | Inhibition of enhanced Cu oxidation on ruthenium | Ding, S.-F. et al. | 2010 |
3 | Spectroscopic Ellipsometry Investigation of Ultrathin Nb2O5 and Nb2O5/Al2O3 Layers | Friedrich, M. et al. | 2010 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 3 |