Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Salvan, G. ; Himcinschi, C. ; Kobitski, Andrei Yu ; Friedrich, M. ; Wagner, H. P. ; Kampen, T. U. ; Zahn, Dietrich R. T.
Crystallinity of PTCDA Films on Silicon Derived via Optical Spectroscopic Measurements
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0169-4332 | |
| URL/URN: | doi:10.1016/S0169-4332(01)00069-1 | |
| Quelle: | In: Applied Surface Science. - 175-176. 2001, S. 363 - 368 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | PTCDA , Silicon , Raman , Infrared , Photoluminescence spectroscopy | |
| PACS - Klassifikation: | 78.30 Jw; 78.55 Kz; 78.66.Qn |
