Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
König, Dirk* ; Ebest, Gunter ; Scholz, R. ; Gemming, Sibylle ; Thurzo, I. ; Kampen, T. U. ; Zahn, Dietrich R. T.
Evidence for High Negative Charge Densities in AlF3 Coatings on Oxidized Silicon: A Promising Source for Large Drift Fields
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut 1: | Professur Theoretische Physik (-Theorie ungeordneter Systeme-) | |
| Institut 2: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1386-9477 | |
| DOI: | doi:10.1016/S1386-9477(02)00399-5 | |
| Quelle: | In: Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures. - 14. 2002, 1-2, S. 259 - 262 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Electron localization , Fixed charges , Fluorine , Density functional calculations , Drift fields | |
| PACS - Klassifikation: | 3.50−z; 03.65Sq; 03.65Ge; 05.30Fk |
