Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Prigann, Sven ; Gruetzner, Markus ; Bissinger, Jochen ; Kollmuss, Manuel ; Reisinger, Hans ; Strasser, Marc ; Kleinhans, Markus ; Bartholomäus, Lars ; Basler, Thomas
Towards Understanding the Fast Degradation of the On-State Resistance in LDMOS Devices
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISBN: 979-8-3315-8971-4 ; Print on Demand(PoD) ISBN: 979-8-3315-8972-1 ; Electronic ISSN: 1938-1891 ; Print on Demand(PoD) ISSN: 1541-7026 | |
| DOI: | doi:10.1109/irps61424.2026.11499207 | |
| Quelle: | 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 22-26 March 2026, Tucson, AZ, USA. - IEEE, 2026 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Contacts , Filtering , Filters , Integrated circuits , Circuits and systems , CMOS technology , System-on-chip , Circuits , Product lifecycle management , Protocols |
