Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Shaporin, Alexey ; Forke, R. ; Schmiedel, R. ; Dotzel, W.
Test-Structures for Wafer Level Microsystems Characterization
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut 1: | Professur Mikrosysteme und Medizintechnik | |
Institut 2: | Zentrum für Mikrotechnologien (ZfM) | |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag, nicht referiert | |
ISBN/ISSN: | ISBN 978-3-8007-3081-0 | |
Quelle: | Smart Systems Integration, Barcelona (Spain), 2008 Apr 9-11, pp. 528-531, 2008 |