Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Friedrich, Michael ; Schlosser, Tobias ; Kowerko, Danny*
Simulation of semiconductor wafer dicing induced faults on chips and their application as augmentation method for a deep learning based visual inspection system
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Förderung: | ESF | |
| Institut: | Juniorprofessur Media Computing | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISSN 1572-8145 ; Print ISSN 0956-5515 | |
| DOI: | doi:10.1007/s10845-024-02559-0 | |
| URL/URN: | https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s10845-024-02559-0.pdf | |
| Quelle: | In: Journal of Intelligent Manufacturing. - Springer Nature. 2025 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Computer vision , Pattern recognition , Visual inspection , Data synthesis , Deep learning , Convolutional neural networks | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
