Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Azhniuk, Yuriy* ; Gomonnai, Alexander V. ; Solonenko, Dmytro ; Loya, Vasyl ; Voynarovych, Ivan ; Lopushanska, Bohdana ; Roman, Ivan ; Lopushansky, Vasyl ; Zahn, Dietrich R. T.
Raman and X-ray diffraction study of Ag–In–S polycrystals, films, and nanoparticles
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Electronic ISSN 2044-5326 ; Print ISSN 0884-2914 | |
| DOI: | doi:10.1557/s43578-023-00960-8 | |
| Quelle: | In: Journal of Materials Research. - Springer Nature. - 38. 2023, 8, S. 2239 - 2250 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Nanoparticles , Thin films , X-ray diffraction , Raman spectroscopy | |
Bemerkung: |
_MA!N_ |
