Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Mehner, Thomas* ; Lampke, Thomas
Analytical Models for Grain Size Determination of Metallic Coatings and Machined Surface Layers Using the Four-Point Probe Method
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Werkstoff- und Oberflächentechnik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1996-1944 | |
| DOI: | doi:10.3390/ma16176000 | |
| Quelle: | In: Materials. - MDPI. - 16. 2023, 17, 6000 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | Vierspitzenmessung , elektrischer Widerstand , elektrische Leitfähigkeit , analytisches Modell , Randschicht , spezifischer Widerstand , Korngröße | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | electrical resistance , electrical resistivity , electrical conductivity , grain size , analytical model , four-point probe method , surface layer | |
| DDC-Sachgruppe: | 620.0044 | |
| OA-Lizenz | CC BY 4.0 |
