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Universitätsbibliothek
Universitätsbibliographie

Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Gerlach, Martina ; Seidel, Peter ; Lutz, Josef

Specific aspects regarding evaluation of power cycling tests with SiC devices


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Leistungselektronik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 978-1-7281-3199-3
Quelle: International Reliability Physics Symposium (IRPS), 3 days, Dallas, Texas- Converted to online conference, 1-6, 2020
Freie Schlagwörter (Englisch): Bipolar degradation , gate oxide , SiC MOSFET , Power Cycling

 

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