Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Prucnal, Slawomir* ; Berencén, Yonder ; Wang, Mao ; Georgiev, Yordan M. ; Erbe, Artur ; Khan, Muhammad B. ; Boettger, Roman ; Hübner, René ; Schönherr, Tommy ; Kalbacova, Jana ; Vines, Lasse ; Facsko, Stefan ; Engler, Martin ; Zahn, Dietrich R. T. ; Knoch, Joachim ; Helm, Manfred ; Skorupa, Wolfgang ; Zhou, Shengqiang
Nanoscale n++-p junction formation in GeOI probed by tip-enhanced Raman spectroscopy and conductive atomic force microscopy
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0021-8979, 1089-7550 | |
| DOI: | doi:10.1063/1.5080289 | |
| Quelle: | In: Journal of Applied Physics. - AIP Publishing. - 125. 2019, 24, S. 245703 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Secondary ion mass spectroscopy , Ohmic contacts , Solid-solubility limit , Raman scattering , Ion implantation , Atomic force microscopy , Nanoelectronics |
