Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Haidu, Francisc ; Ludemann, Michael ; Schäfer, Philipp ; Gordan, Ovidiu-Dorin* ; Zahn, Dietrich R. T.
In Situ Ellipsometry - A Powerful Tool for Monitoring Alkali Doping of Organic Thin Films
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0040-6090 | |
| URL/URN: | http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2014.02.101 | |
| Quelle: | In: Thin Solid Films. - Elsevier BV. - 571. 2014, 3, S. 426 - 430. - 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-VI) | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Ellipsometry , K doping , Optical properties , Alq3 , alpha-NPD , MnPc |
