Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Otto, Alexander ; Rzepka, Sven ; Kaulfersch, Eberhard ; Frankeser, Sophia ; Brinkfeldt, Klas ; Zschieschang, Olaf
Reliability Investigation on SiC BJT Power Module
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-4186-1 | |
| URL/URN: | http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7499474&isnumber=7499336 | |
| Quelle: | PCIM Europe 2016; , 10 - 12 May 2016, Nuremberg Germany. - Berlin Offenbach : VDE Verlag GmbH, 2016, pp. 1063 - 1071 | |
| Freie Schlagwörter (Deutsch): | SiC BJT , Modul , Zuverlässigkeit , Lastwechsel , Leistungselektronik , Bipolartransistor , Siliziumkarbid , Fehleranalyse , doppelseitig gekühlt , Zth | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | SiC BJT , power module , reliability , investigations , power cycling , bipolartransistor , silicon carbide , failure analysis , double sided cooling , Zth |
