Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Sowade, Enrico ; Ramon, Eloi ; Mitra, Kalyan Yoti ; Martínez-Domingo, Carme ; Pedró, Marta ; Pallarès, Jofre ; Loffredo, Fausta ; Villani, Fulvia ; Gomes, Henrique L. ; Terés, Lluís ; Baumann, Reinhard R.
All-inkjet-printed thin-film transistors: manufacturing process reliability by root cause analysis
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Forschung Prof. Baumann | |
Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
ISBN/ISSN: | 2045-2322 | |
URL/URN: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-211665 ; http://dx.doi.org/10.1038/srep33490 | |
Quelle: | In: Scientific Reports. - Nature Publishing Group. 2016 | |
SWD-Schlagwörter: | Polymerelektronik , Halbleiterbauelement , Drucktechnik | |
Freie Schlagwörter (Deutsch): | Inkjetdruck , organische Elektronik , gedruckte Elektronik , Dünnschichttransistoren , Halbleiterbauelement , Prozessstabilität , Drucktechnik | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | inkjet printing , organic electronics , printed electronics , thin film transistors , semiconductor device , process stability , printing technology | |
DDC-Sachgruppe: | Ingenieurwissenschaften | |
OA-Lizenz | CC BY 4.0 |