Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Seitz, Lisa ; Schütze, Adrian ; Nordheim, Gregor ; Seyller, Thomas ; Hundhausen, Martin
Characterization of few layer MoS2 on Silicon Carbide with Raman Spectroscopy
Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
Institut: | Professur Experimentalphysik mit dem Schwerpunkt Technische Physik | |
Dokumentart: | Konferenzabstract | |
URL/URN: | http://www.dpg-verhandlungen.de/year/2016/conference/regensburg/part/o/session/46/contribution/2 | |
Quelle: | Dpg-Frühjahrstagung Regensburg, 6.-11.3.2016 | |
Freie Schlagwörter (Englisch): | 2D Materials beyond Graphene , TMDCs , Slicene , Relatives |