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Nr. Titel Autor Jahr
1 Characterization of few layer MoS2 on Silicon Carbide with Raman Spectroscopy Seitz, Lisa et al. 2016
2 Growth and Characterization of Thin MoS2 Films on the Buffer Layer on SiC(0001) Schütze, Adrian et al. 2016
3 Growth and characterization of thin MoS2 layers by CVD Nordheim, Gregor et al. 2015
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