Ergebnis der Datenbankabfrage
Nr. | Titel | Autor | Jahr |
---|---|---|---|
1 | Characterization of few layer MoS2 on Silicon Carbide with Raman Spectroscopy | Seitz, Lisa et al. | 2016 |
2 | Growth and Characterization of Thin MoS2 Films on the Buffer Layer on SiC(0001) | Schütze, Adrian et al. | 2016 |
3 | Growth and characterization of thin MoS2 layers by CVD | Nordheim, Gregor et al. | 2015 |
Anzahl der Ergebnisseiten: | 1 |
Anzahl der Dokumente: | 3 |