Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Sheremet, Evgeniya* ; Milekhin, Alexander G. ; Rodriguez, Raul D. ; Dmitriev, D. ; Toropov, Alexander Ivanovich ; Gutakovskii, A. ; Dentel, Doreen ; Grünewald, W. ; Hietschold, Michael ; Zahn, Dietrich R. T.
Raman, AFM, and TEM Profiling of QD Multilayer Structures
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut 1: | Professur Halbleiterphysik | |
| Institut 2: | Professur Analytik an Festkörperoberflächen | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | Online ISSN: 2053-1591 | |
| DOI: | doi:10.1088/2053-1591/2/3/035003 | |
| Quelle: | In: Material Research Express. - 2. 2015, 3, 035003-1 - 035003-9 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Raman spectroscopy , atomic force microscopy |
