Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Güner, Alper ; Zillmann, Benjamin ; Lampke, Thomas ; Tekkaya, A. Erman
In-situ stress analysis with X-Ray diffraction for yield locus characterization of sheet metals
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Werkstoff- und Oberflächentechnik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-0-7354-1195-1 | |
| URL/URN: | http://dx.doi.org/10.1063/1.4850059 | |
| Quelle: | NUMISHEET 2014, 6 - 10. Januar 2014, Melbourne (Australia), P. 663-666. - AIP Publishing, 2013 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Materials analysis, Stress strain relations, X-ray diffraction |
