Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Arnold, Markus ; Fechner, Axel ; Zahn, Dietrich R. T.
Charge Transient Spectroscopy Measurements of Metal-Oxide-Semiconductor
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 1862-6351 | |
| URL/URN: | doi:10.1002/pssc.200982483 | |
| Quelle: | In: Physica Status Solidi C: Current Topics in Solid State Physics. - 7. 2010, 2, S. 321 - 325 | |
Bemerkung: |
Special Issue: 12th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (ICFSI-12) |
