Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Thurzo, I. ; Kampen, T. U. ; Zahn, Dietrich R. T. ; König, D.
Electron Capture Kinetics at AlF3/SiO2 Interfaces
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Halbleiterphysik | |
| Dokumentart: | Artikel in Fachzeitschrift, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 0169-4332 | |
| URL/URN: | doi:10.1016/S0169-4332(03)00043-6 | |
| Quelle: | In: Applied Surface Science. - 212-213. 2003, S. 753 - 759 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | AlF3 , Electron states , Spectroscopy | |
Bemerkung: |
11th International Conference on Solid Films and Surfaces |
