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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Azhniuk, Yuriy* ; Gomonnai, Alexander V. ; Solonenko, Dmytro ; Loya, Vasyl ; Voynarovych, Ivan ; Lopushanska, Bohdana ; Roman, Ivan ; Lopushansky, Vasyl ; Zahn, Dietrich R. T.

Raman and X-ray diffraction study of Ag–In–S polycrystals, films, and nanoparticles


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Halbleiterphysik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, referiert
ISBN/ISSN: Electronic ISSN 2044-5326 ; Print ISSN 0884-2914
DOI: doi:10.1557/s43578-023-00960-8
Quelle: In: Journal of Materials Research. - Springer Nature. - 38. 2023, 8, S. 2239 - 2250
Freie Schlagwörter (Englisch): Nanoparticles , Thin films , X-ray diffraction , Raman spectroscopy

Bemerkung:

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