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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Azhniuk, Yuriy M.* ; Gomonnai, Alexander V. ; Solonenko, Dmytro ; Lopushansky, Vasyl V. ; Loya, Vasyl Y. ; Voynarovych, Ivan M. ; Roman, Ivan Y. ; Zahn, Dietrich R. T.

Characterization of Ag-In-S films prepared by thermal evaporation


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Halbleiterphysik
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 2214-7853
DOI: doi:10.1016/j.matpr.2022.01.488
Quelle: In: Materials Today: Proceedings. - Elsevier BV. - 62. 2022, Part 9, S. 5745 - 5748. - XVIII International Freik Conference on Physics and Technology of Thin Films and Nanosystems
Freie Schlagwörter (Englisch): Amorphous films , Atomic force microscopy , X-ray diffraction , Raman spectroscopy

Bemerkung:

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