Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Schwabe, Christian ; Thönelt, Nick ; Basler, Thomas
Reliability investigation of SiC MOSFETs under switching operation in various packages
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-3-8007-5757-2 ; 978-3-8007-5758-9 | |
| Quelle: | International Conference on Integrated Power Electronic Systems, 2022, Berlin, S. 386-391. - VDE, 2022 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Reliability , SiC MOSFET , power cycling , 3D-simulation |
