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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Bortchagovsky, E.* ; Demydenko, Yu. ; Bogoslovskaya, A. ; Tang, J. ; Dai, F. ; Fleischer, M. ; Milekhin, Ilya A. ; Sharma, Apoorva ; Salvan, Georgeta ; Zahn, Dietrich R. T.

Microellipsometry study of plasmonic properties of metal-insulator-metal structures with ordered lattices of nanoparticles


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Halbleiterphysik
Dokumentart: Artikel in Fachzeitschrift, referiert
ISBN/ISSN: 0021-8979 ; 1089-7550
DOI: doi:10.1063/5.0039164
Quelle: In: Journal of Applied Physics. - AIP Publishing. - 129. 2021, 12, 123104
Freie Schlagwörter (Englisch): Polarizability , Plasmonic nanostructures , Electron-beam lithography , Thin films , Nanoparticles , Plasmonics , Optical properties

Bemerkung:

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