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Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz


Conti, Fosca ; Liu, E ; Bhogaraju, Sri Krishna ; Wunderle, Bernhard ; Elger, Gordon

Finite Element simulations and Raman measurements to investigate thermomechanical stress in GaN-LEDs


Universität: Technische Universität Chemnitz
Institut: Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit mikrotechnischer Systeme
Dokumentart: Konferenzbeitrag, referiert
ISBN/ISSN: 978-1-7281-6293-5 ; 978-1-7281-6294-2
DOI: doi:10.1109/estc48849.2020.9229843
Quelle: 2020 IEEE 8th Electronics System-Integration Technology Conference (ESTC), 15-18 Sept. 2020, Norway. - IEEE, 2020
Freie Schlagwörter (Englisch): Residual stresses , thermo-mechanical simulation , LED packaging , Raman spectrocospy

 

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