Eintrag in der Universitätsbibliographie der TU Chemnitz
Gerlach, Martina ; Seidel, Peter ; Lutz, Josef
Specific aspects regarding evaluation of power cycling tests with SiC devices
| Universität: | Technische Universität Chemnitz | |
| Institut: | Professur Leistungselektronik | |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag, referiert | |
| ISBN/ISSN: | 978-1-7281-3199-3 | |
| Quelle: | International Reliability Physics Symposium (IRPS), 3 days, Dallas, Texas- Converted to online conference, 1-6, 2020 | |
| Freie Schlagwörter (Englisch): | Bipolar degradation , gate oxide , SiC MOSFET , Power Cycling |
